von Dr. Gunther Pabst
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| [1.] Gp/Fragment 029 01 - Diskussion Zuletzt bearbeitet: 2016-01-16 14:40:34 Hindemith | Ewerbeck 1993, Fragment, Gesichtet, Gp, KomplettPlagiat, SMWFragment, Schutzlevel sysop |
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| Untersuchte Arbeit: Seite: 29, Zeilen: 1 ff (kpl.) |
Quelle: Ewerbeck 1993 Seite(n): 61, 62, Zeilen: 61: 11 ff - 62: 1 ff |
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| Die Energie dieser Röntgenstrahlen ist für jedes Element charakteristisch. Man spricht daher von charakteristischer Röntgenstrahlung. Es entsteht auf diese Weise ein energiedispersives Röntgenspektrum.
Zusätzlich wird eine Röntgenbremsstrahlung frei, die in Spektren als kontinuierlicher Untergrund sichtbar ist. Die quantitative Auswertung der Spektren richtet sich nach der Höhe des Peaks über dem Untergrund, wobei elementspezifische Eigenschaften und Wechselwirkungen mit weiteren, im Material befindlichen Elementen berücksichtigt werden. Dazu wird in einer umfangreichen Korrektursoftware (sogenannte ZAS-Korrektur) der tatsächliche Konzentrationswert berechnet. Als Untersuchungsmaterial dienten unentkalkte, in Methylmethacrylat eingebettete Dünnschliffpräparate mit einer Schichtdicke von 70 Mikrometern. Die Oberfläche dieser Proben wurde mit einer ca. 30 nm dicken Goldschicht bedampft, um die notwendige Leitfähigkeit für rasterelektronenmikroskopische Untersuchungen zu erhalten. Die so vorbereiteten Präparate wurden auf dem, mit einem Kippwinkel von 30° geneigten, Objekttisch des Rasterelektronenmikroskops fixiert. Folgende weitere Bedingungen wurden für alle Messungen konstant gehalten: Beschleunigungsspannung: 20 kV Es wurden von den Proben zunächst auf einem Bildschirm übertragene Übersichtsbilder bei 6 facher Vergrößerung angefertigt, aus denen ein beliebiger Bereich zur Messung herausvergrößert werden konnte (Abb. 10 und 11). |
Die Energie dieser Röntgenstrahlungen ist für jedes Element charakteristisch, man spricht daher von charakteristischer Röntgenstrahlung. Es entsteht auf diese Weise ein energiedispersives Röntgenspektrum.
Zusätzlich wird eine Röntgenbremsstrahlung frei, die in den Spektren als kontinuierlicher Untergrund sichtbar ist. Die quantitative Auswertung der Spektren richtet sich nach der Höhe des Peaks über dem Untergrund, wobei elementspezifische Eigenschaften und Wechselwirkungen mit den weiteren im Material befindlichen Elementen berücksichtigt werden Dazu wird in einer umfangreichen Korrektursoftware (sogenannte ZAS-Korrektur) der tatsächliche Konzentrationswert berechnet. Als Untersuchungsmaterial dienten unentkalkte, in Methylmethacrylat eingebettete Dünnschliffpräparate mit einer Schichtdicke von 70 µm. Die Oberfläche dieser Proben wurde mit einer ca 30 nm dicken Goldschicht bedampft, um die notwendige Leitfähigkeit für rasterelektronenmikroskopische Untersuchungen zu erhalten Die so vorbereiteten Präparate wurden auf dem mit einem Kippwinkel von 30° geneigten Objekttisch des Rasterelektronenmikroskopes fixiert (Abb 34). [Seite 62] Folgende weiteren Bedingungen wurden für alle Messungen konstant gehalten: Beschleunigungsspannung: 20 kV Es wurden von den Proben zunächst auf einen Bildschirm übertragene Übersichtsbilder bei 6facher Vergrößerung angefertigt, aus denen ein beliebiger Bereich zur Messung herausvergrößert werden konnte (Abb. 35 a und b). |
Quelle nicht genannt. |
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